Facultad de Ciencias Naturales y Exactas

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El Laboratorio de Difracción de Rayos X prestar servicios en la docencia, investigación y extensión desde el 2010, ofreciendo servicios de obtención de información cualitativa y cuantitativa de las fases estructurales presentes de materiales en polvo, bloque y película delgada, usando el Difractómetro X'Pert PRO MRD de PANalytical, para la invesrtigación de materiales.

Método Rietveld

Por refinamiento de los difractogramas, usando el método Rietveld, obtenemos información cuantitativa de la cantidad de cada fase y de parámetros cristalográficos, tales como:

  • Parámetros de red
  • Tamaño de cristalito
  • Volumen de celda unitaria
  • Otras medidas

Muestras

Para muestras en bloque o película delgada realizamos:

  • Medidas de haz rasante
  • Reflectividad
  • Textura
  • Mapas polares
  • Curvas rocking
  • Mapas de espaciamiento reciproco

 

Contacto

Hernán Darío Colorado Restrepo

Teléfono: +57 (2) 321 2255

E-mail: Esta dirección de correo electrónico está siendo protegida contra los robots de spam. Necesita tener JavaScript habilitado para poder verlo.

Web: http://cenm.univalle.edu.co/